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SDM系列 影像測量儀結合CC數位像和光柵位位移值，通過軟件計算后實現測量。影像儀具有高穩(wěn)定性、高精度、高效率等特點，能夠滿足現代工業(yè)大批量、高精度的測量需求。

STM系列白光干涉儀可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級別測量，以“面”的形式獲取表面3D形貌通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析，最高RMS重復性可達0.002nm。STM-1000搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，最高掃描速度400um/秒，3200Hz加業(yè)內原創(chuàng)SST+GAT算法，可瞬間完成最高500萬點云采集。白光干涉原理通過光干涉相位計量任意放大倍率下均可獲得1nm的檢測精度。